2012-6-25

        由浙江大学半导体研究所开发，杭州科捷仪器厂生产的KJ-2900型半导体分立器件测试系统是由计算机控制的智能化测试仪器。设置参数齐全，高压源1850V，Ic电流源18A，Ib电流源10A，适合NPN和PNP大、中、小功率晶体管，达林顿晶体管，彩电用高反压大功率晶体管和单、双向可控硅，VDMOS，二极管，稳压管，肖特基栅型整流管等类型晶体管的直流电参数，开关参数TS、TF和瞬态热敏参数ΔVBE等进行分选统计。待测产品型号和测试条件可任意设定、修改、添加、删除和存贮，且测试数据可长期保存或随时打印，亦可转到“Excel”来编制测试报告。仪器还能检测双极型晶体管最大额定电流ICM和VCBO，VCEO硬击穿特性参数DELTA (VCE0)、DELTA (VCB0) 。可同时测试三个不同条件下的3个VCE0、VCB0、HFE和VCES。用户可按产品标准对有关参数（如HFE，Ts等）可自行编辑分档 （参数设置和功能与同类进口机基本一致）。节能灯用13000系列晶体管联动机测试分选时速达四千只左右。

 

        仪器还可快速图示VCE-IC输出特性曲线及相应10组不同IC条件下的HFE数据，直接观察特性曲线。仪器既可用于生产线与分选机联动测试分选，又可用于对器件参数全面检测分析评价。

 

        仪器主机设有分选机接口，可与芯片自动测试探针台或分选机联动测试。

 

        仪器有“校对”功能，可对仪器各项电压、电流和关键部件进行检测校对，确保仪器参数精度和被测晶体管参数的准确性。本厂技术力量雄厚（主要技术人员为浙大教师），可据用户需要增设内容。该仪器界面简洁、友好、操作方便，性能稳定可靠，性价比高，是半导体器件测试分选及性能检测的理想设备，欢迎选购。

 

杭州科捷仪器厂 

联系人：吴元灿 

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